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半導體污染對便攜式直流高壓發(fā)生器有什么影響？
更新時間：2023-02-07 瀏覽次數(shù)：963
便攜式直流高壓發(fā)生器在行業(yè)內先采用分節(jié)式結構，即既可用于高電壓等級，又能用于較低電壓等級，并保持其精度不變。以100／200kV／2mA分兩節(jié)為例，單節(jié)時可做100kV／2mA使用，可用于35kV及以下系統(tǒng)電氣設備直流高壓試驗，此時可保證測量的準確性避免大馬拉小車；兩節(jié)使用時可做200kV／2mA使用。
便攜式直流高壓發(fā)生器可用于220kV分節(jié)、110kV及以下氧化鋅避雷器直流試驗及交聯(lián)電纜的直流耐壓試驗。做到一機兩用，大大方便了現(xiàn)場用戶的使用。主要用于研究電氣設備直流精電及換流站設備和絕緣材料在直流高電壓下的絕緣強度、直流愉電線路電暈和離子流及其效應以及進行交、直流電力設備的泄漏電流試驗。
另外便攜式直流高壓發(fā)生器還可以作為其他高壓試驗設備如沖擊電壓發(fā)生器、沖擊電流發(fā)生器、振蕩回路等的電源。在其他科技領域里，如物理學（加速器、電子顯微鏡等）、電子醫(yī)療設備（X射線）、工業(yè)應用（廢氣沉淀、靜電噴漆等）、或電子通信（電視、廣播站）等方面也被廣泛應用。
便攜式直流高壓發(fā)生器不需要外部分壓器即可輕松接線。該儀器具有高低壓端以測量泄漏電流，高壓端由圓形屏蔽數(shù)字儀表顯示。它不怕放電沖擊，具有良好的抗干擾性能，適合現(xiàn)場使用。
高壓測試通過或失敗的結論是要表示高壓電器中的弱點是否對將來的操作有害。這意味著測試中的故障機制應與設備運行中的機制具有相同的物理過程。
在直流耐壓測試中，電子被注入到聚合物介質中以形成空間電荷，這會降低該位置的電場強度，使其難以擊穿。半導體半導體和污染點易于產生空間電荷。
但是，如果在測試過程中電纜端子頭的表面閃爍或電纜附件損壞，則電纜芯上會發(fā)生波動。在空間電荷積累的地方，振蕩電壓的極性迅速變?yōu)橄喾吹臉O性。
